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该N沟道碳化硅MOSFET的漏源击穿电压(VDSS)为650V,连续漏极电流(ID)达9A,导通电阻(RDS(on))为320mΩ,栅源驱动电压范围(VGS)为-8V至@0V。器件基于碳化硅工艺,具备较低的导通损耗与优异的高频开关特性,适用于高效率电源转换、可再生能源系统及紧凑型电力电子设备,在高温或高频率工作条件下仍能保持稳定性能。